植物的冠層分析在生產(chǎn)和研究中有著很廣泛的應用，最直接的方法就是全株收獲法，但由于實際應用中工作量過大和對植物會造成破壞的原因，存在一定的局限性。盡管使用掃描儀提高了工作效率，但每片葉子的掃描過程仍較繁瑣。全株收獲法是規(guī)范的葉面積測定方法，*最準確，因而被用來校正其它簡便LAI測定方法并評判其它方法的準確性。
產(chǎn)品用途
植物冠層分析儀SUNSCAN SS1-COM可普遍應用于農(nóng)業(yè)消費和農(nóng)業(yè)科研，為停止冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研討作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量質(zhì)量與光能應用間的關系，本儀器用于400nm－700nm波段內(nèi)的光合有效輻射（PAR）測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾（μmols㎡/秒），適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領域有關栽培、育種、植物群體對比與發(fā)展的研究與教學。